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SunScan植物冠層分析儀（標準版）
產品時間：2023-02-07
SunScan 植物冠層分析儀（標準版）通過測量作物冠層PAR值提供了關 于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖
SunScan 植物冠層分析儀(標準版)通過測量作物冠層PAR值提供了關 于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖
原理：
根據冠層(ceng)吸收的(de)Beer法則、Wood的(de)SunScan冠層(ceng)分析(xi)方(fang)程(cheng)以及Campbell的(de)橢(tuo)圓葉(xie)面角度分布方(fang)程(cheng) (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使(shi)用光(guang)量子傳感器來測量、計算(suan)和分析(xi)植物冠層(ceng)截獲(huo)和穿透的(de)光(guang)合有效輻射及葉(xie)面積指數
軟件計算
SunScan 植物冠層分析儀(標準版)主要是(shi)通過(guo)測量冠(guan)層(ceng)截獲的(de)光合有(you)效輻射量(PAR)來計算(suan)葉面積(ji)指(zhi)數（LAI），軟件中(zhong)涉及到的(de)參數有(you)：
直射和散(san)射入射輻射光、葉(xie)面積指數、葉(xie)片(pian)(pian)透(tou)光率(lv)、葉(xie)傾(qing)角、天(tian)頂(ding)角、穿透(tou)輻射。在這幾個(ge)參數中，天(tian)頂(ding)角是根據當地的(de)時(shi)間、經度(du)和緯度(du)來計算的(de)，葉(xie)片(pian)(pian)透(tou)光率(lv)和葉(xie)傾(qing)角是需要用戶自己估計的(de)，其(qi)他的(de)參數都是直接(jie)測量得出的(de)
基本技術指標：
| SS1探測器 | ||
| 探測器(qi)工作區域 | 1000×13mm寬，傳感器(qi)間距15.6mm | |
| 探測器光譜響應 | 400 ~ 700nm (PAR) | |
| 探測器測量時間 | 120ms | |
| 探測(ce)器分(fen)辨(bian)率 | 0.3μmol. m-2.s-1 | |
| 探測器大(da)讀(du)數(shu) | 2500μmol.m-2.s-1 | |
| 精度 | ±10% | |
| 模擬輸出(chu) | 1 mV per μmol. m-2.s-1 | |
| 尺寸(cun)和重(zhong)量 | 1300×100×130mm,1.7kg | |
| 供(gong)電 | 4節五號電池，約使用1年(nian) | |
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| RPDA2手持終端 | ||
| 屏幕(mu) | 1/4VGA屏幕，太陽光下(xia)依然顯示清晰 | |
| 操作系統 | Windows Mobile6 | |
| 顯示項目 | LAI、PAR平均(jun)值、每個(ge)傳(chuan)感器的(de)讀數(shu) | |
| 手持終端(duan)工作環境 | IP67防護等級，-30-60℃ | |
| 電源(yuan) | 可充電電池，約使用12小時(shi) | |
| 手(shou)持終端存儲 | 支持>100M | |
| 尺寸和重量 | 165×95×45mm，450g | |
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